| 产品特性：原厂直销 | 是否进口：否 | 产地：武汉 |
| 加工定制：否 | 类型：半导体器件测试仪 | 品牌：普赛斯仪表 |
| 型号：S200B | 测量范围：0～300V/0～3A | 测量频率：50/60Hz |
| 测量精度：0.03% | 适用范围：半导体IC或元器件，功率器件，传感器，有机材料与纳米材料等特性测试和分析。 | 重量：5kg |
| 尺寸：425*255*106mmmm |
半导体电性能测试应用的专业领域十分广泛，分别有：微电子、集成电路、物理与电子工程、航空航天、材料科学与工程、材料与能源、电子科学与工程、光电信息与能源工程等等等...
数字源表作为电学测量的常用仪器，在高校和研究所的相关实验室内几乎都能看到，源表集多表合一、配上专业软件即可实现各种定制测量，使用非常广泛。 S型数字源表在一个半机架尺寸的仪器中结合了电压源、电流源、电压表、电流表、电子负载等功能，这些测试功能，令S型触摸屏数字源表具有I-V特性测试系统、曲线追踪仪和半导体分析仪的各种测试能力，而成本***廉。
高精度iv测试仪都有哪些应用呢？
实验篇
在实际应用中，不同专业领域所进行的电性能测试实验是不同的，下面就来展示一些典型的实验现象。
I-V特性测试
电流电压我都要，性能测试有一套！
C-V特性测试
输入/输出特性测试
输入特性曲线
输出特性曲线
反向击穿电压测试
讲到这里，小编还是要说一句，半导体电性能测试实验远远不止这些，在各种实验项目中,多功能数字源表不可缺。
普赛斯仪表专注于半导体电性能测试领域，基于高精度数字源表综合实验平台，可提供多种实验测量环境，搭配丰富的测试夹具及实验器材，满足半导体电性能测试需求，提高测试效率。
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